產業：SEMICON Korea下週登場，愛德萬測試秀5G、汽車和IoT應用最新解決方案

南韓國際半導體展(SEMICON Korea)將於2月5～7日登場，半導體測試設備大廠愛德萬測試(Advantest Corporation)宣布將展出5G、汽車和IoT等最新先進IC測試解決方案。

愛德萬提到，本次的展出重點，除了高速記憶體測試解決方案外，還將展示更多推動5G革命、加速其他革新應用的產品與解決方案，譬如先進駕駛輔助系統(ADAS)/自動駕駛、物聯網(IoT)/智慧裝置和人工智慧(AI)。

愛德萬預計展出，最新重點產品包括V93000 Wave Scale Millimeter解決方案，首款高度整合、模組化多部位毫米波(mmWave)ATE測試方案，能以最佳成本效益測試高達70 GHz的5G-NR毫米波元件；針對T2000系列測試平台設計，與最新圓形HIFIX整合的兩款新模組，在設計目的上正是為了擴大測試範圍、提升平行測試能力並降低使用於汽車之系統單晶片(SoC)元件的測試成本；業界首款兼具熱控制能力與高產能的測試平台MPT3000ARC，能進行包括PCIe Gen 4在內之固態硬碟(SSD)的極端溫度測試；和來自Advantest Test Solutions(ATS)的SoC系統級測試解決方案。

此外，愛得萬預計展出的其他產品與解決方案還包括：V93000 SMU8系統，針對28奈米到3奈米甚至更先進製程節點所需的次世代DC參數測試；T5800-系列記憶體測試機，提供從晶圓級到最終測試的端到端測試解決方案；T5503HS2系統，也是同類測試機中，唯一具備評量次世代高速LPDDR5和DDR5記憶體IC先進特色的能力；HiFIX高速記憶體測試解決方案，支援16Gbps以上測試速度的先進元件測試；搭載HVI(高壓VI源與量測)模組的EVA100測量系統，能進一步擴充平台的測量範圍至涵蓋使用於量產消費性應用的高功率IC；高階MVM-SEM(多重視角掃描式電子顯微鏡)E3650，用於測量次世代光罩；針對1X-nm技術節點的F7000電子束微影工具。